Fallas y Métodos de Prueba en Conversores en Tarjetas T-CON en Pantallas LED

Objetivo: Brindar a los
participantes los conocimientos y habilidades necesarios para identificar,
diagnosticar y solucionar fallas en los conversores de voltaje presentes en las
tarjetas T-CON de pantallas LED, mediante el uso de métodos de prueba prácticos
y herramientas de medición, enfocándose en voltajes clave como VGH, VGL, VDD y
VA, así como en la evaluación térmica, de corriente y cortocircuitos en circuitos
críticos.
1. Fundamentos del multiconversor en tarjetas T-CON
- Principio de funcionamiento
del multiconversor.
- Voltajes típicos generados
en pantallas HD: VGH, VGL, VDD, VA.
- Importancia del
multiconversor en el control de imagen.
2. Diagnóstico y reemplazo del voltaje VGH y VGL
- Función de VGH y VGL en el
manejo de los transistores del panel.
- Cómo se generan y cómo se
sustituyen en caso de falla.
- Fallas comunes por ausencia
o inestabilidad de estos voltajes.
- Métodos de medición y
análisis.
3. Generación y prueba de los voltajes VDD y VA
- Definición y diferencias
entre VDD (lógica) y VA (alimentación de la T-CON).
- Técnicas para su generación
estable.
- Fallas frecuentes por
ausencia o incorrecta regulación.
- Efectos en la calidad de
imagen o apagado del panel.
4. Conversores y voltajes en tarjetas T-CON de
pantallas Full HD
- Diferencias estructurales
entre T-CON de pantallas HD y Full HD.
- Adaptaciones de voltaje y
diseño en alta resolución.
- Consideraciones en el
análisis y prueba de conversores para Full HD.
5. Conversor para el circuito HFR (High Frame Rate)
- Función del circuito HFR en
pantallas LED.
- Características del
conversor asociado.
- Fallas comunes y diagnóstico
del circuito HFR.
6. Pruebas de corto circuito en tarjetas T-CON
- Identificación de fallas por
corto en los conversores.
- Técnicas de diagnóstico con
multímetro y análisis visual.
- Zonas críticas de prueba y
protección de los componentes.
7. Pruebas térmicas en circuitos críticos
- Medición de temperatura en
el circuito multiconversor.
- Prueba de temperatura en el
circuito gamma.
- Identificación de fallas por
sobrecalentamiento.
- Herramientas recomendadas
para medición térmica.
8. Pruebas de corriente en la T-CON (procesamiento
de señal LVDS a mini-LVDS)
- Evaluación del consumo de
corriente en el procesamiento de imagen.
- Conversión de señal desde
LVDS a mini-LVDS.
- Fallas en la transmisión de
datos y diagnóstico de señal.
- Técnicas de prueba para
verificar funcionamiento del procesador de imagen.
IMPARTIDO POR EL ING. JORGE LUIS HDZ CARDENAS
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