Fallas y Métodos de Prueba en Conversores en Tarjetas T-CON en Pantallas LED

Objetivo: Brindar a los participantes los conocimientos y habilidades necesarios para identificar, diagnosticar y solucionar fallas en los conversores de voltaje presentes en las tarjetas T-CON de pantallas LED, mediante el uso de métodos de prueba prácticos y herramientas de medición, enfocándose en voltajes clave como VGH, VGL, VDD y VA, así como en la evaluación térmica, de corriente y cortocircuitos en circuitos críticos.

1. Fundamentos del multiconversor en tarjetas T-CON

• Principio de funcionamiento del multiconversor.
• Voltajes típicos generados en pantallas HD: VGH, VGL, VDD, VA.
• Importancia del multiconversor en el control de imagen.

2. Diagnóstico y reemplazo del voltaje VGH y VGL

• Función de VGH y VGL en el manejo de los transistores del panel.
• Cómo se generan y cómo se sustituyen en caso de falla.
• Fallas comunes por ausencia o inestabilidad de estos voltajes.
• Métodos de medición y análisis.

3. Generación y prueba de los voltajes VDD y VA

• Definición y diferencias entre VDD (lógica) y VA (alimentación de la T-CON).
• Técnicas para su generación estable.
• Fallas frecuentes por ausencia o incorrecta regulación.
• Efectos en la calidad de imagen o apagado del panel.

4. Conversores y voltajes en tarjetas T-CON de pantallas Full HD

• Diferencias estructurales entre T-CON de pantallas HD y Full HD.
• Adaptaciones de voltaje y diseño en alta resolución.
• Consideraciones en el análisis y prueba de conversores para Full HD.

5. Conversor para el circuito HFR (High Frame Rate)

• Función del circuito HFR en pantallas LED.
• Características del conversor asociado.
• Fallas comunes y diagnóstico del circuito HFR.

6. Pruebas de corto circuito en tarjetas T-CON

• Identificación de fallas por corto en los conversores.
• Técnicas de diagnóstico con multímetro y análisis visual.
• Zonas críticas de prueba y protección de los componentes.

7. Pruebas térmicas en circuitos críticos

• Medición de temperatura en el circuito multiconversor.
• Prueba de temperatura en el circuito gamma.
• Identificación de fallas por sobrecalentamiento.
• Herramientas recomendadas para medición térmica.

8. Pruebas de corriente en la T-CON (procesamiento de señal LVDS a mini-LVDS)

• Evaluación del consumo de corriente en el procesamiento de imagen.
• Conversión de señal desde LVDS a mini-LVDS.
• Fallas en la transmisión de datos y diagnóstico de señal.
• Técnicas de prueba para verificar funcionamiento del procesador de imagen.